| 1. | В.В. Кулямин, А.К. Петренко, А.С. Косачев, И.Б. Бурдонов. Подход UniTesK к разработке тестов. Программирование, 29(6): 25-43, 2003. |
| 2. | Б. Бейзер. Тестирование черного ящика. Технологии функционального тестирования программного обеспечения и системы. Питер, 2004. |
| 3. | D. Lee and M. Yannakakis. Principles and methods of testing finite state machines - a survey. Proceedings of the IEEE, volume 84, pp. 1090-1123, Berlin, Aug 1996. |
| 4. | H. Robinson. Graph Theory Techniques in Model-Based Testing. Proceedings of the International Conference on Testing Computer Software, 1999. |
| 5. | S. Rosaria, H. Robinson. Applying Models in your Testing Process. Information and Software Technology. Volume 42, Issue 12, Sept. 2000. |
| 6. | W. Grieskamp, Y. Gurevich, W. Schulte, and M. Veanes. Generating Finite State Machines from Abstract State Machines. ISSTA 2002, International Symposium on Software Testing and Analysis, July 2002. |
| 7. | H. Robinson. Intelligent Test Automation. Software Testing and Quality Engineering, September/October 2000, pp. 24-32. |
| 8. | C. Alexander, S. Ishikawa, M. Silverstein, M. Jacobson, I. Fiksdahl-King, S. Angel. A Pattern Language. Oxford University Press, New York, 1977. |
| 9. | Э. Гамма, Р. Хелм, Р. Джонсон, Дж. Влиссидес. Приемы объектно-ориентированного проектирования. Паттерны проектирования. Спб: Питер, 2001. |
| 10. | I. Bourdonov, A. Kossatchev, A. Petrenko, and D. Galter. KVEST: Automated Generation of Test Suites from Formal Specifications. FM'99: Formal Methods. LNCS 1708, Springer-Verlag, 1999, pp. 608-621. |
| 11. | I. Bourdonov, A. Kossatchev, V. Kuliamin, and A. Petrenko. UniTesK Test Suite Architecture. Proc. of FME 2002. LNCS 2391, pp. 77-88, Springer-Verlag, 2002. |
| 12. | И.Б. Бурдонов, А.С. Косачев, В.В. Кулямин. Применение конечных автоматов для тестирования программ. Программирование, 26(2):61-73, 2000. |
| 13. | |
| 14. | I.B. Bourdonov, A.V. Demakov, A.A. Jarov, A.S. Kossatchev, V.V. Kuliamin, A.K. Petrenko, S.V. Zelenov. Java Specification Extension for Automated Test Development. Proceedings of PSI'01. LNCS 2244, pp. 301-307. Springer-Verlag, 2001. |
